中圖儀器SuperViewW1白光干涉測厚儀針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時滿足的高精度、大掃描范圍的需求,在自動拼接模塊下,只需要確定起點和終點,即可自動掃描,重建其超光滑的表面區域,不見一絲重疊縫隙。
中圖共聚焦顯微鏡VT6000系列擅長微納級粗糙輪廓的檢測,能夠提供色彩斑斕的真彩圖像便于觀察。可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
VT6000材料共聚焦顯微鏡具備一體化操作的測量與分析軟件,預先設置好配置參數再進行測量,軟件自動統計測量數據并提供數據報表導出功能,即可快速實現批量測量功能;廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。
中圖儀器VT6000系列3D超景深共聚焦顯微鏡設備具備表征微觀形貌的輪廓尺寸及粗糙度測量功能,以及自動拼接功能,能夠快速實現大區域的拼接縫合測量。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、科研院所等領域中。
SuperViewW1白光干涉儀品牌是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和優異的3D重建算法組成測量系統,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
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